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            1. 首页    角度衍射测量    KXR-4100系列双转角晶片测角机
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              KXR-4100系列双转角晶片测角机

              用于双转角石英晶片的角度测量。

              主要特点

               

              1. 采用低功率X射线源实现双转角晶片角度的精确测量。

              2. 可根据用户指定的转角范围进行产品定制。

              3. 可根据用户指定的晶片规格提供自动分类方案。

               

              统计功能

               

              —动态中心值指示

              —动态标准偏差值指示

              —测量数据列表显示

              —模拟分选统计

               

              测量模式

               

              放置一个晶片,自动整理,自动扫描测量。


              技术参数

               

              KXR-4100

              Φ:18°30′0″- 26°00′0″

              θ:33°15′0″- 34°30′0″

              KXR-4102

              Φ:0°0′0″- 8°30′0″

              θ:34°15′0″- 35°45′0″

              外形尺寸(长宽高)

              725*715*1450mm

              重量

              198kg

              屏幕

              8英寸触控屏

              输入电源

              220V±10%,50-60Hz,0.65A

              输入气源

              0.5MPa,20L/min洁净气源

              衍射方式

              二级衍射 

              光路调整方式

              可控光轨调整装置

              操作方式

              人工置片,自动整理±X方向辨识测量和分类

              静态重复性测试标准偏差

              约3″(10次,不同角度晶片会有差异)

              可测量晶片规格

              X向:12-40mm,Z向:12-40mm

              数据呈现

              实时提供每片数据;数据以统计表  形式显示在触控屏上

              数据输出

              提供以太网传输接口、SD卡 

               

               

               

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